什么是校準(zhǔn)？

有些人將讀數(shù)相同的兩臺(tái)儀器（例如示波器和萬(wàn)用表）認(rèn)為是“校準(zhǔn)過(guò)”的。然而，這種方法存在問(wèn)題，至少是完全不科學(xué)的。這就好比讓一個(gè)會(huì)計(jì)審計(jì)自己的賬目。如果按這種方式進(jìn)行校準(zhǔn)，有三種顯而易見的情況是無(wú)法解釋的：首先，如果一臺(tái)儀器正確，另一臺(tái)儀器錯(cuò)誤，那么誰(shuí)是誰(shuí)非？其次，如果兩臺(tái)儀器發(fā)生錯(cuò)誤的方式相反，工程師怎么能說(shuō)明兩者都不正確？*后，如果兩臺(tái)儀器發(fā)生錯(cuò)誤的方式相同，結(jié)果就是錯(cuò)誤的，而工程師毫不知情。如果沒(méi)有真正的可溯源外部標(biāo)準(zhǔn)，就不能說(shuō)某臺(tái)儀器是正確的。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的精度必須遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于被測(cè)儀器的精度。不要忘了，標(biāo)準(zhǔn)也存在容差。如果被測(cè)設(shè)備（DUT）的容差范圍與標(biāo)準(zhǔn)的容差范圍重疊，就不能實(shí)現(xiàn)完全校準(zhǔn)。這正是校準(zhǔn)時(shí)通常要求標(biāo)準(zhǔn)的精度至少比DUT的精度高10倍的原因。如果標(biāo)準(zhǔn)的容差非常確定、足夠小，就能夠調(diào)節(jié)DUT,防止其在兩次校準(zhǔn)期間由于正常漂移而造成讀數(shù)超標(biāo)。當(dāng)校準(zhǔn)采用*新技術(shù)的儀器時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)的精度不可能比其高10倍。根據(jù)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，可使用比精度高4倍的標(biāo)準(zhǔn)，但要配合更復(fù)雜的過(guò)程，包括與其它標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行交叉檢驗(yàn)。

計(jì)量實(shí)驗(yàn)室

嚴(yán)謹(jǐn)?shù)墓こ處熧?gòu)買頂端品牌的儀器，并且預(yù)期這些電子測(cè)試儀器的精度較高。隨著使用時(shí)間加長(zhǎng)，有些參數(shù)發(fā)生漂移，所以工程師將儀器送至計(jì)量實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行校準(zhǔn)。但計(jì)量實(shí)驗(yàn)室的真實(shí)情況如何呢？

大多數(shù)計(jì)量實(shí)驗(yàn)室是好的、有效的。不幸的是，有些則是不合格的。有些公司選擇價(jià)格*低的實(shí)驗(yàn)室，而不調(diào)研其資質(zhì)，由工程師負(fù)責(zé)核實(shí)實(shí)驗(yàn)室的真實(shí)性。好的實(shí)驗(yàn)室非常樂(lè)意讓您參觀，并為其標(biāo)準(zhǔn)的溯源性而自豪。您可以拿著儀器的校準(zhǔn)手冊(cè)，與實(shí)驗(yàn)室人員坐在一起，確認(rèn)實(shí)驗(yàn)室擁有完成高精度校準(zhǔn)所必需的儀器。您還必須確保實(shí)驗(yàn)室的儀器經(jīng)過(guò)正確校準(zhǔn)，具有可溯源性。大多數(shù)國(guó)家擁有自己的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室，比如美國(guó)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院（NIST）1.好的計(jì)量實(shí)驗(yàn)室會(huì)有記錄證明其儀器與標(biāo)準(zhǔn)鏈進(jìn)行了正確比對(duì)，可溯源至由NIST或其它國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)的主標(biāo)準(zhǔn)。

測(cè)試儀器的內(nèi)部零件（例如電壓基準(zhǔn)、輸入分壓器、放大器增益，以及失調(diào)）會(huì)隨時(shí)間變化而發(fā)生漂移。好的校準(zhǔn)方式可確保典型的小漂移不會(huì)影響測(cè)量。校準(zhǔn)就是要發(fā)現(xiàn)并修正這種漂移。但有時(shí)也會(huì)有意外：儀器可能會(huì)跌落或操作人員可能會(huì)滑倒以及探測(cè)較高電壓。例如，數(shù)字萬(wàn)用表（DMM）可能會(huì)過(guò)載，從而產(chǎn)生較大誤差。由于數(shù)字萬(wàn)用表的輸入有保險(xiǎn)絲或斷路器保護(hù)，所以有些人錯(cuò)誤的認(rèn)為這種情況不會(huì)造成其超標(biāo)。然而，高電壓可能會(huì)跳過(guò)輸入保護(hù)裝置，或者會(huì)在保護(hù)裝置發(fā)揮作用之前的瞬間對(duì)電路造成破壞。